Мы используем cookie файлы, как и большинство сайтов в интернете. Гарантируем сохранность ваших персональных данных.
предконференция №1

Доверенная и экстремальная электроника

7–10 сентября 2026 Москва, пр-т Андропова, д. 18/5
Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника»
Координаторы Предконференции
Никифоров Александр Юрьевич
Доктор технических наук, профессор,
заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Кессаринский Леонид Николаевич
Кандидат технических наук,
заместитель директора АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ

Организатор

Под доверенностью (в широком смысле) понимается подтвержденное свойство изделия (ЭКБ, РЭА) удовлетворять потребности в соответствии с назначением в течение срока и в условиях эксплуатации, верифицируемости, тестопригодности и соответствия документации, санкционной стойкости, а также отсутствие недекларируемых включений, коррекций и возможностей управления и считывания информации, признаков контрафактного происхождения.

Под экстремальностью понимается подтвержденное свойство сохранения работоспособности изделия в «жестких» электрических режимах и условиях эксплуатации, в том числе при радиационных воздействиях, в расширенном диапазоне температур среды, в условиях электромагнитных наводок и помех, других внешних дестабилизирующих воздействий.
КООРДИНАТОР ПРЕДКОНФЕРЕНЦИИ

Никифоров Александр Юрьевич

доктор технических наук, профессор,
заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Программа Предконференции №1
В программе возможны изменения
7 сентября 2026
08:30-09:00
Сбор и регистрация участников
09:00-09:10
Приветствие. Открытие Предконференции №1
академик РАН, д.т.н., проф. Красников Геннадий Яковлевич
Председатель Программного комитета Российского форума «Микроэлектроника 2026», руководитель приоритетного технологического направления «Электронные технологии» РФ
09:10-09:15
Порядок работы и программа Предконференции №1
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
09:15-13:15
БЛОК «Экстремальная электроника»

Модератор:
к.т.н. Чуков Георгий Викторович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
09:15-09:30
Закономерности распределения результатов контроля радиационной стойкости производственных партий пластин
Московская Юлия Марковна, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
09:30-09:45
Аппроксимация профиля рассеяния ионизирующего излучения при оценке локальных дозовых нагрузок
к.т.н. Рубанов Павел Владимирович, АО «НИИП»
09:45-10:00
Хронология развития отечественного испытательного оборудования для определения стойкости ЭКБ к воздействию тяжёлых заряженных частиц космического пространства в XXI веке
Ватуев Александр Сергеевич, АО «НИИП»
10:00-10:15
Компактные методы C–V-диагностики радиационной деградации MOП-транзисторов
Ph.D. Метревели Алексей Александрович, НИЯУ МИФИ
10:15-10:30
Конструктивная адаптация оптопар при радиационных испытаниях
Колегов Леонид Александрович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
10:30-10:45
Докладчик уточняется
11:00-11:30
КОФЕ-БРЕЙК
11:30-11:45
Тема уточняется
Сашников Денис Сергеевич, АО «Арсенал» КрЗПП»
11:45-12:00
Тема уточняется
к.т.н. Яньков Андрей Ильич, ООО «НПП «Детектор»
12:00-12:15
Эксплозиметр водорода с высокой долговременной стабильностью
Образцов Иван Сергеевич, НИЯУ МИФИ
12:15-12:30
Газовые сенсоры на основе МДП-конденсаторов для определения малых концентраций вредных и опасных газов
Этрекова Майя Оразгельдыевна, НИЯУ МИФИ
12:30-12:45
Экспериментальное моделирование влияния радиационных нагрузок на стойкость мощных МОП-транзисторов к воздействию электростатических разрядов
Бакеренкова Диана Максимовна, АО «НИИП» / НИЯУ МИФИ
12:45-13:00
Обеспечение достоверности и повторяемости определения показателей стойкости изделий ЭКБ к воздействию импульсов напряжения по критерию выявления скрытых дефектов в полупроводниковых структурах и процессов деградации
Шемонаев Александр Николаевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
13:00-13:10
Дискуссия, выводы
13:10-14:10
ОБЕД
14:10-18:30
БЛОК «Технологическое и контрольно-измерительное оборудование»

Модератор:
к.т.н. Уланова Анастасия Владиславовна, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
14:10-14:40
Развитие отечественного электронного машиностроения от прошлого к будущему
к.ф.-м.н. Веретенников Александр Владимирович, АО «ЭЗАН»
14:40-15:00
Развитие технологического оборудования в парадигме Комплексной программы развития электронного машиностроения
Петренко Яков Игоревич, АО «МНТЦ МИЭТ»
15:00-15:15
Развитие функциональных материалов для микроэлектроники в парадигме Комплексной программы развития электронного машиностроения (тема на уточнении)
к.ф.-м.н. Ежлов Вадим Сергеевич, АО «МНТЦ МИЭТ»
15:15-15:30
Особенности ведомственных требований к выполнению и приёмке ОКР в РЭП. Унификация документации и процедур
Караулов Роман Андреевич, ФГБУ «ВНИИР»
15:30-16:00
КОФЕ-БРЕЙК
16:00-16:15
Проблемные вопросы испытаний разработанных в ходе ОКР установок на привнесённые загрязнения пластин пылевыми частицами и металлами
Кузнецова Вероника Александровна, АО «ЭНПО СПЭЛС»
16:15-16:30
Особенности технологий производства особо чистых веществ и материалов в организациях АО «Росатом Наука»
к.т.н. Мазилин Иван Владимирович, АО «Росатом Наука»
16:30-16:45
АО «Научное оборудование» (доклад на согласовании)
16:45-17:00
Разработка модульной платформы систем прецизионного перемещения для линейки инспекционного и метрологического оборудования
Василевкин Евгений Владимирович, АО «Нанотроника»
17:00-17:10
НИЦ «Курчатовский институт» НИИСИ
Доклад на согласовании (про ПЛК)
17:10-17:20
Разработка программно-управляемого источника микросекундных высокоамперных импульсов для испытаний полупроводниковых приборов
Златин Сергей Андреевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
17:20-17:30
Снижение паразитной ёмкости коммутационной системы слаботочных сигналов для автоматизации функциональных испытаний
Шевлягин Михаил Сергеевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
17:30-17:40
Аппаратно-программный комплекс для измерения времени обратного восстановления и заряда восстановления полупроводниковых диодов
Михайлов Денис Андреевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
17:40-18:05
ОНЛАЙН
Периферийное оборудование, транспортно-загрузочные узлы и системы идентификации и ориентации пластин: мировой рынок и тенденции развития. Продуктовые предложения отечественных производителей в контексте отраслевых трендов
Борисова Любовь Владимировна, ООО «Джиэнтех»
18:05-18:30
Дискуссия, выводы
8 сентября 2026
08:30-09:00
Сбор и регистрация участников
09:00-18:30
БЛОК «Разработка и производство ЭКБ микроэлектроники, СВЧ, фотоники, микросистемной техники, пассивки»

Модератор:
к.т.н. Усачёв Николай Александрович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
09:00-09:15
Подходы к созданию радиочастотных библиотек базовых элементов для КМОП технологических процессов
к.т.н. Усачёв Николай Александрович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
09:15-09:30
Доклад на согласовании
09:30-09:45
Доклад на согласовании
09:45-10:00
Разработка СВЧ ИС на основе отечественной технологии GaN HEMT
ФИО докладчика уточняется, АО «ОКБ Планета»
10:15-10:30
Разработка поведенческой модели лазер-тиристора с анодным управлением
Шульгин Михаил Андреевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
10:30-10:45
Разработка бортовой электроники космических аппаратов на отечественной элементной базе: схемотехнические решения
к.т.н. Бакеренков Александр Сергеевич, АО «НИИ КП»
10:45-11:00
Открытая платформа сверхоперативной разработки и выпуска доверенных аналоговых микросхем на основе унифицированных АБМК и сервисов MPW и MPC
к.т.н. Попов Алексей Эдуардович, Донской государственный технический университет
11:00-11:15
Физический и эмпирический подход к восстановлению параметров моделей GaN HEMT
Метёлкин Игорь Олегович, АО «Микроволновые системы»
11:15-11:30
Метрика интегрального показателя различимости для количественной оценки эффективности нормировки потребления питания цифровых интегральных схем
к.т.н. Тишин Александр Сергеевич, АО «НИИМЭ»
11:30-12:00
КОФЕ-БРЕЙК
12:00-12:30
Отечественные процессы серии Эльбрус: текущее состояние и перспективы развития
Трушкин Константин Александрович, АО «МЦСТ»
12:30-12:45
Разработка инструментального СВЧ усилителя мощности L-диапазона на GaN HEMT транзисторе
Тимошкин Максим Константинович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
12:45-13:00
Доклад на согласовании
13:00-13:15
Разработка кварцевого генератора с быстрым запуском по технологии КМОП 250 нм
Волкова Анастасия Антоновна, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
13:15-13:30
Разработка сигма-дельта модулятора с использованием КМОП технологических процессов 250 и 180 нм
Соколов Тимофей Сергеевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
13:30-14:30
ОБЕД
14:30-15:15
Доверенная СВЧ ЭКБ: специфика, состояние, перспективы
к.т.н., доцент Миннебаев Вадим Минхатович, АО «Микроволновые системы»
15:15-16:00
Инструментарий для успешной разработки КМОП приемопередатчиков: технологические процессы и библиотеки, САПР, маршруты, схемно-топологические решения
к.т.н. Усачёв Николай Александрович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
16:00-16:30
КОФЕ-БРЕЙК
16:30-18:00
Интерактивный мастер-класс «Разработка СВЧ усилителя с использованием GaN HEMT в САПР Keysight ADS»
Чернышев Глеб Олегович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
18:00-18:30
Подведение итогов заседания
9 сентября 2026
08:30-09:00
Сбор и регистрация участников
09:00-19:00
БЛОК «Доверенная электроника»

Модератор:
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ
09:00-09:05
Приветственное слово модератора блока
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ
09:05-09:40
Подход к формированию требований, обеспечению и подтверждению доверенности (качества и безопасности) электроники (расширенный обзорный доклад)
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, ПК3 «Доверенная ЭКБ» ТК 167, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
09:40-10:00
Прослеживаемость в процессах жизненного цикла критических электронных компонентов, комплексах и систем
Сидорин Юрий Юрьевич, АНО «Доверенная платформа»
10:00-10:20
Интеграционные модели доверенных СФ-блоков на ранних стадиях разработки: требования, валидация и верификация
Косарев Иван Михайлович, НИЦ «Курчатовский институт» - НИИСИ
10:20-10:40
Владение исходным кодом не значит владение продуктом
Мухин Алексей Анатольевич, АО «МЦСТ»
10:40-11:00
Оценка способов реализации угроз внедрения аппаратных закладок
к.ф.-м.н. Лачинов Алексей Алексеевич, «Росатом. Квантовые технологии»
11:00-11:15
Доверенная ЭКБ как инструмент обеспечения резильентности в условиях непосредственной угрозы производственным мощностям и цепочкам поставок
Харченко Максим Эдуардович, АО «ВЗПП-С»
11:15-11:30
Обсуждение
11:30-12:00
КОФЕ-БРЕЙК
12:00-12:30
От угроз к требованиям: аппаратно обеспечиваемая безопасность памяти в доверенных компонентах безопасности
к.т.н. Карантаев Владимир Геннадьевич, «Лаборатория Касперского»
12:30-12:45
Исследование временной изоляции доверенных многоядерных архитектур средствами покомандного моделирования
к.т.н. Гревцев Никита Артемович, НИЦ «Курчатовский институт» - НИИСИ
12:45-13:00
Исследование архитектурных методов балансировки энергопотребления для повышения устойчивости аппаратной реализации алгоритма Кузнечик к анализу энергопотребления
Алексеев Валерий Дмитриевич, АО «НИИМЭ»
13:00-13:15
Особенности применения метрики TVLA к аппаратным реализациям алгоритмов шифрования AES и «Кузнечик»
Михайлов Виктор Юрьевич, АО «НИИМЭ»
13:15-13:30
ОНЛАЙН
Анализ энергопотребления легковесного криптографического алгоритма SPECK 64/128
к.т.н. Маро Екатерина Александровна, Южный федеральный университет
13:30-14:30
ОБЕД
14:30-15:00
Синергия доверенной микроэлектроники и искусственного интеллекта
Пончаков Михаил Юрьевич, ЭАГ ПК3 ТК 167
15:00-15:15
Цифровой паспорт и децентрализованные идентификаторы в системах идентификации с поддержкой доверия
к.т.н. Семёнов Антон Валерьевич, ФГУП «18 ЦНИИ» МО РФ
15:15-15:30
Построение доверенной сетевой топологии ПАК под управлением отечественных встраиваемых систем на основе теории кристаллографии
к.т.н. Иванов Денис Вадимович, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
15:30-15:45
Задание критериев доверенности при поставке ЭКБ для ПАК КИИ
Каретко Леонид Игоревич, АО «РАСУ»
15:45-16:00
Экспериментальное подтверждение критериев доверенности ЭКБ
Ткачук Михаил Викторович, ООО «ИРЗ-Тест»
16:00-16:15
ISO/IEC 17825: анализ изменений в методологии оценки побочных каналов
Михайлов Виктор Юрьевич, АО «НИИМЭ»
16:15-16:30
Автоматизация рентгеновской верификации кристаллов доверенных микросхем,
Горбась Андрей Витальевич, АО «Российские космические системы»
16:30-17:00
КОФЕ-БРЕЙК
17:00-17:15
Проблемные вопросы построения систем тестирования малых космических аппаратов на примере испытаний бортового компьютера
Леухин Иван Борисович, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
17:15-17:30
Использование аппаратных счетчиков производительности для распознавания поведения пользовательского программного обеспечения
Земков Савва Игоревич, НИЦ «Курчатовский институт» - НИИСИ
17:30-17:45
Повышение стабильности физически неклонируемых функций на основе ПЛИС Xilinx
Козин Дмитрий Андреевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
17:45-18:00
Оптимизация алгоритма перевода чисел в модульной арифметике с использованием ПЛИС
Турбин Денис Сергеевич, НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС»
18:00-18:30
Обсуждение докладов, дискуссия
10 сентября 2026
08:30-09:00
Сбор и регистрация участников
09:00-19:00
БЛОК «Развитие стандартизации в доверенной электронике»

Модераторы блока:
Гребенников Иван Сергеевич, АО «НПО «КИС»
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, АИЦ ИБСЗИ НИЯУ МИФИ
к.т.н. Левин Роман Григорьевич, АО «РНИИ «Электронстандарт»
09:00-09:20
Вводное слово модераторов
09:20-11:00
Обсуждение технических аспектов Перспективной программы стандартизации в области доверенной ЭКБ
09:20-09:40
Общее представление базовых идей перспективной программы стандартизации в области доверенной ЭКБ
к.т.н. Левин Роман Григорьевич, ТК 303, АО «РНИИ «Электронстандарт»
09:40-10:00
Обсуждение
10:00-10:20
Доверенный компонент безопасности: разработка и ключевые положения проекта национального стандарта ГОСТ Р «Защита информации. Доверенный компонент безопасности.
Часть 1. Общие положения»
к.т.н. Карантаев Владимир Геннадьевич, ТК 362, АО «Лаборатория Касперского»
10:20-10:40
Обсуждение
10:40-11:00
Подведение промежуточных итогов
11:00-11:30
КОФЕ-БРЕЙК
11:30-13:30
Обсуждение основных положений из проектов стандартов на доверенные интегральные микросхемы
11:40-12:00
Общее представление базовых идей и проектов стандартов
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, ПК3 «Доверенная ЭКБ» ТК 167, НИЯУ МИФИ
12:00-12:20
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Микросхемы интегральные доверенные. Общие положения»
12:20-13:10
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Микросхемы интегральные доверенные. Общие технические условия»
13:10-13:30
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Микросхемы интегральные доверенные. Общие требования к жизненному циклу»
13:30-14:30
ОБЕД
14:30-16:30
Обсуждение основных положений из проектов стандартов на доверенные программно-аппаратные комплексы
14:30-14:50
Общее представление базовых идей и проектов стандартов
Гребенников Иван Сергеевич, ПК1 «Доверенные ПАК» ТК 167, АО «НПО КИС»
14:50-15:10
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Программно-аппаратные комплексы доверенные. Критерии доверия. Термины и определения»
15:10-16:10
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Программно-аппаратные комплексы доверенные. Общие технические требования»
16:10-16:30
Обсуждение положений ГОСТ Р «Критическая информационная инфраструктура. Программно-аппаратные комплексы доверенные. Жизненный цикл. Общие положения»
16:30-17:00
КОФЕ-БРЕЙК
17:00-19:00
.
17:00-18:00
Вопросы и мнения по проблемным вопросам
18:00-18:30
Свободная дискуссия
18:30-19:00
Общая дискуссия. Подведение итогов Предконференции №1
Повышайте квалификацию на Российском форуме «Микроэлектроника»: дополнительное развитие с пользой и перспективами!

Всем зарегистрированным участникам Российского форума «Микроэлектроника» предлагается по желанию пройти расширенную программу повышения квалификации (дополнительного профессионального образования – ПК ДПО) и получить новый образовательный опыт.

Подробнее о программе повышения квалификации на базе АО «ЭНПО СПЭЛС» →

Если вы участник Предконференции №1, в вашем Личном кабинете участника имеется возможность зарегистрироваться на обучение, выбрав программу от одного из ведущих организаций-поставщиков образовательных услуг АО «ЭНПО СПЭЛС».

Для прохождения дополнительной профессиональной программы повышения квалификации «Состояние и развитие доверенной и экстремальной электроники для регулируемых рынков критической инфраструктуры в 2026 году» необходимо посещение Предконференции №1 и Трека обзорно-дискуссионных заседаний «Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры» научной конференции «ЭКБ и микроэлектронные модули» форума «Микроэлектроника».

Обучение осуществляется на собственной материально-технической базе учебного центра «ЭНПО СПЭЛС». Преподавание программы осуществляется сотрудниками АО «ЭНПО СПЭЛС», имеющими высшее образование и/или учёную степень (к.т.н.), а также привлечёнными экспертами по отдельным специализированным вопросам при методическом сопровождении (модерации) сотрудниками АО «ЭНПО СПЭЛС».

Форма обучения: очно-заочная.

Докладчики Форума получат преимущества при прохождении итоговой аттестации.
Тематика Предконференции №1 «Доверенная и экстремальная электроника» охватывает широкий спектр вопросов создания, применения и контроля работоспособности ЭКБ и РЭА общего и специального назначения, в том числе:

– микропроцессоров и микроконтроллеров, других программно-управляемых систем, СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе реализованных в условиях контрактного производства;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхемы памяти, интерфейсные схемы;
– аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– радиоэлектронных систем, приёмопередатчиков, СВЧ- и РЧ-ЭКБ для систем связи, навигации, радиолокации, электронной маркировки, беспилотного транспорта, интернета вещей и др.;
– полупроводниковых приборов и систем на их основе, в том числе мощных, высоковольтных, СВЧ, прецизионных;
– всех видов пассивных электронных и электротехнических изделий;
– индикаторов, дисплеев, изделий и систем оптоэлектроники, радиофотоники и лазерной техники.

В отношении перечисленных классов объектов к тематике Секции непосредственно относятся все вопросы:

– исследования, моделирование, проектирование, контроль, верификация и испытания ЭКБ, комплексов и систем для применения в объектах критической информационной инфраструктуры;
– обеспечения, испытаний и оценки надёжности, информационной безопасности, идентификации и выявления признаков контрафактного происхождения изделий;
– обеспечение, испытания и контроль качества, надёжности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учётом влияния режимов, сроков и условий эксплуатации;
– разработка и применение методик и аппаратно-программных комплексов для тестирования и контроля работоспособности изделий ЭКБ и радиоэлектронных систем.

Предварительная конференция №1 проводится в сентябре в Москве на базе Консорциума НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» в смешанном очно-заочном (онлайн) формате как для докладчиков, так и для слушателей. Выступления на предварительной сессии будут проходить в форматах обзорного доклада (30 минут), доклада (20 минут), сообщения (15 минут) и краткого сообщения (10 минут) — указанный регламент включает время для ответов на вопросы и обсуждения.

УСЛОВИЯ УЧАСТИЯ

Гибкие финансовые условия участия в Форуме учитывают выбранный формат участия — очное или заочное, только в предконференции или во всех мероприятиях Форума, а также предусматривают существенные льготы для аспирантов и студентов, в том числе бесплатное заочное участие в предконференции. Принятые условия позволят всем категориям специалистов наиболее эффективно участвовать в работе конференции и публиковать свои работы при оптимальном бюджете участия, а также при минимизации влияния медицинских рисков и ограничений.

Публикация статей по материалам выступлений на Предконференции №1, а также мнений-эссе участников, проводится в профильном журнале «Безопасность информационных технологий», который является доверенным информационным партнёром Форума и его Предконференции, входит в перечень журналов, рекомендованных ВАК для публикации результатов диссертационных работ и статей членов диссертационных советов по специальностям 2.2.2, 2.3.5 и 2.3.6.
Интервью Александра Никифорова
Интервью Александра Никифорова, члена Оргкомитета Форума «Микроэлектроника» с 2016 года, руководителя Предконференции №1 (7–10 сентября 2026 года, Москва) и Трека обзорно-дискуссионных заседаний «Доверенные ПАК и ЭКБ для регулируемых рынков КИИ» (с 27 сентября по 3 октября 2026 года, ФТ «Сириус») Форума, главного редактора научного журнала «Безопасность информационных технологий», д.т.н., профессора, заместителя директора центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ – о состоянии и перспективах российской микроэлектроники в контексте доверенных решений для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры.

Смотрите ролик в источнике: https://app.electronica-connect.com/public/post?id=16e14d449eac47ddb3b48bebebf7143b&vendorId=169070b6-24f9-4898-bf0c-5783cc7237dc

Интервью подготовлено бизнес-сообществом Electronica Connect – цифровой платформой для специалистов области электроники и ИТ.
Интервью Леонида Кессаринского
К.т.н. Леоднид Кессаринский, заместитель директора АИЦ ИБСЗИ, НИЯУ МИФИ, в студии Electronica Connect рассказал о текущем состоянии отрасли, трендах и планах Национального исследовательского ядерного университета.

Смотрите ролик в источнике: https://app.electronica-connect.com/public/post?id=ef6631168f0d4611a9e3035fd40f3baa&vendorId=169070b6-24f9-4898-bf0c-5783cc7237dc
Вебинар «Доверенная ЭКБ микроэлектроники для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры»
12 августа 2025 года состоялся вебинар «Доверенная ЭКБ микроэлектроники для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры». Мероприятие прошло при участии информационных партнёров форума «Микроэлектроника 2025» – выставки ExpoElectronica и бизнес-сообщества Electronica Connect.

Спикерами вебинара выступили:
  • Дмитрий Гоголев, к.т.н., заместитель председателя ТК 167, Госкорпорация «Росатом».
  • Александр Никифоров, профессор, д.т.н., заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники (ЦЭПЭ) НИЯУ МИФИ
  • Леонид Кессаринский, к.т.н., руководитель РГ «ДИС» ТК 167, НИЯУ МИФИ.

Участники обсудили категории качества ЭКБ для регулируемых рынков КИИ, критерии и свойства доверенной ЭКБ микроэлектроники в сопоставлении со специальной и народнохозяйственной, виды технических требований к доверенной ЭКБ микроэлектроники, проведение оценки на соответствие требованиям доверенности.

Более подробно вопросы доверенной и экстремальной электроники рассмотрены на Предконференции №1 Научной конференции Форума «Микроэлектроника 2025».

Смотрите запись вебинара в наших сообществах:
ВКонтакте, Rutube